温度冲击试验环境箱

温度冲击试验环境箱

主要技术参数

温度测试范围:高温0℃~150℃;低溫:0℃~-50℃
转换时间:≤10秒钟
温度恢复时间:≤5分钟
控制精度:±0.5℃
温度波动度: ≤±0.5℃
温度均匀度:≤2℃
温度偏差:≤±2℃


主要系统构成
送分循环系统,加热系统,冷冻系统,电路控制系统,安全保护系统等

选配项:(有线/无线)通讯,防爆型

使用环境条件
温度:0~35℃
大气压:86~106Kpa
相对湿度:≤85%RH
周围无强烈振动,无阳光直接照射或其它热源直接辐射,无强烈电磁场影响,无高浓度粉尘及腐蚀性物质,场地通风良好。

满足标准
GJB/150.5-2009      温度冲击试验
GB/T2423.1-2008    电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法  试验A:低温
GB/T2423.2-2008    电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法  试验B:高温
GB/T2423.22-2012  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法  试验N:温度变化
GB/T 10589-2008    低温试验箱技术条件
GB/T 10592-2008    高低温试验箱技术条件
GB/T 11158-2008    高温试验箱技术条件
GB/T 5170.2-2008   电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度试验设备

备注:上述参数为常规技术参数,可根据客户需要调整产品性能参数;如需要详细产品资料欢迎电话联系销售部索取,400-991-8535

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